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CMI200涂層測(cè)厚儀特點(diǎn): 測(cè)厚儀精度高、穩(wěn)定性好 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能 232接口,可連接打印機(jī)或電腦 可選配90度直角探頭 帶有掃描測(cè)量模式 測(cè)量范圍寬 NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片 技術(shù)參數(shù) 較小測(cè)量面積 0~3000μm(F);0~2000μm(N) 誤差 ±3% 分辨率 0.1um 較小曲率半徑 5mm(凸);25mm(凹) 較小測(cè)量面積 φ20mm 較小基體厚度 0.35mm 顯示 4LCD位數(shù)顯 測(cè)量單位 um-mils可選 校準(zhǔn)方式 精密兩點(diǎn)校準(zhǔn) 統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差S、讀數(shù)個(gè)數(shù)9,999 較大值max、較小值min 接口 232串口 電源 1節(jié)9V電池 儀器尺寸 150x80x30mm 儀器重量 260